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    載流子擴散長度測量系統

    描述:載流子擴散長度測量系統采用的SSPG技術可用于測量納米~微米范圍的載流子擴散長度LD,有機薄膜材料(Bulk-Hetero-Junction有機材料和鈣鈦礦材料)的測量已由LGEP成功驗證,同時被驗證的包括硅基薄膜材料(例如:非晶硅、微晶硅和多晶硅)。

    更新時間:2023-09-07
    產品型號:
    廠商性質:代理商
    詳情介紹
    品牌其他品牌價格區間面議
    產地類別進口應用領域環保,化工,生物產業,能源,電子

    載流子擴散長度測量系統

    應用領域:

    -有機太陽能電池:Bulk-Hetero-junctions, polymers and others
    -無機太陽能電池:a-Si, a-SiGe, μc-Si
    -鈣鈦礦太陽能電池:Hybrid perovskite layers used for PV
    -有機半導體:according to transport and absorption properties
    -無機半導體:according to transport and absorption properties

     

    測量功能:

    - 少數載流子和多少載流子:Mobility x lifetime product <μt> 
    - 少數載流子擴散長度LD
    - 可測量少數載流子和多少載流子壽命
    - 激發能測量(當選擇溫度控制選件)

     

    產品特色:

    1. 可量測單一像素點的量子效率。
    2. 可量測全數組像素量子效率。
    3. 可產生各種所需單色光均勻光源,自動化校正各單色光、特定單色光入射光子數。
    4. 可量測CRA特性(選配)
    5. 軟件可配合用戶需求修改(選配)。
    6. 為全自動化設計,操作簡易。

     

    載流子擴散長度測量系統系統優勢:
    *QE-IS系統采用光焱科技研發多年的單色光均光系統具備下列多項優勢:
    *高均勻度
    *可產生高均勻度的單色光光斑,在10x10mm2面積內均勻度可以>99%,在20x20mm2面積內仍可維持在>98%。與積分球系統相較,具有更佳的均勻度表現。
    *高光強度、高訊噪比
    *QE-IS高效率均光系統,以550nm單色光為例,在QE-IS系統光均面的光強度可>5 uW/cm2,相較于積分球系統的單色光強僅1x10-8 uW/cm2,兩者差距千萬倍,QE-IS系統量測具備的訊噪比,可測出感光組件的量子效率等相關光學特性。 
    *可作單像素QE量測
    *因QE-IS單色光強度足夠(5 uW/cm2@550nm),打在1 um的像素單元,產生的光電流約在20 pA,相較于積分球系統產生的單一像素光電流在sub-fA以下,QE-IS系統可直接用于量測數組感光組件上,任何單一像素的量子效率。 
    *可作全數組像素QE量測
    *除單一像素量測,QE-IS可整合或是被整合于使用者自行開發的感光組件的數字電路訊號,以量測全數組像素QE。 
    *可作CRA量測
    *QE-IS的均勻單色光發散角度< 5度,相較積分球的發散角度 >90度,搭配選配的旋轉平臺,即可量測CRA(Chief Ray Angle)特性。無需額外添購系統,方便整體的量測。

     

     

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